PROBLEMY FUNKCJONALNEGO TESTOWANIA PAMIĘCI RAM

ISBN: 0867-096X-164

264 stron
format: B5
oprawa: miękka
Rok wydania: 2009

Pierwsza na polskim rynku monografia w całości odnosząca się do problemu testowania pamięci RAM. W publikacji autorzy skupili się nad jednym z aspektów powyższego problemu, a mianowicie nad testowaniem funkcjonalnym. Szczególna uwaga poświęcona została testom transparentnym (ang. transparent memory tests) jak również testom wieloprzebiegowym. Te pierwsze pozwalają testować pamięć bez konieczności przerywania normalnej pracy urządzenia, podczas gdy te drugie wykazują się dużą efektywnością w wykrywaniu uszkodzeń złożonych np. uszkodzeń uwarunkowanych zawartością (ang. Pattern Sensitive Faults). W poszczególnych rozdziałach monografii, przedstawione zostały znane z literatury modele uszkodzeń, jak również algorytmy pozwalające efektywnie wykrywać uszkodzenia przez nie definiowane. Obszerną część pracy stanowią oryginalne analizy iwyniki badań dotyczące powyższej tematyki, zaprezentowane wcześniej w licznych publikacjach. W wypadku testowania transparentnego szczegółowo omówiono autorską technikę wykorzystującą wysoki stopień symetrii testów krokowych, a mianowicie technikę testów symetrycznych (ang.symmetric transparent tests). Przedstawiając testowanie wieloprzebiegowe autorzy przeanalizowali dogłębnie zarówno technikę zmiany adresacji jak też zmiany zawartości początkowej pamięci. Zaproponowano algorytmy umożliwiające w sposób optymalny dobierać parametry początkowe poszczególnych iteracji testu.Monografia adresowana jest do studentów i doktorantów wydziału informatyki, elektroniki, telekomunikacji i automatyki. Ponadto, algorytmy w niej przedstawione oraz zaproponowane techniki mogą zostać bezpośrednio wykorzystane przez inżynierów i projektantów systemów cyfrowych.