PODSTAWY MONITOROWANIA I DIAGNOSTYKI UKŁADÓW MECHATRONICZNYCH

ISBN: 978-83-7947-564-3

stron: 312

format: B5

oprawa: miękka

Rok wydania: 2023

Wspólny punkt zespolenia systemu mechanicznego, elektronicznego i informatycznego wymaga platformy, która będzie komunikowała się tak z urządzeniami fizycznymi, jak i z systemami przetwarzania danych. Taką platformą wydaje się być środowisko programowania graficznego LabVIEW (prod. National Instruments). W opracowaniu przedstawiono specyfikę pracy w środowisku LabVIEW. Główny nacisk położono na charakterystykę dostępnych obiektów oraz stosowanie typowych struktur programowania, takich jak np. pętle czy rejestry. Zakres przedstawianych zagadnień jest na tyle szeroki, że w podręczniku można odnaleźć opis podstawowych typów danych, zalecenia w stosunku do projektowania paneli czołowych oprogramowania, objaśnienia typowych architektur aplikacji. Struktura rozdziałów jest dwuczęściowa: opiera się na podziale na część zawierającą wstępne informacje teoretyczne, po których następuje część praktyczna. Struktura podręcznika została tak ułożona, że może on być wykorzystywany do wspomagania prowadzenia zajęć praktycznych. Możliwości opisywanej platformy programowania docenią tak inżynierowie mechanicy, chcący rozbudować urządzenia o funkcje automatyki, jak i programiści, chcący zaimplementować swoje algorytmy do urządzeń mechanicznych i elektrycznych.